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半导体微纳检测仪器 > Rigaku日 X射线衍射仪
 
TFXRD-300/200 X射线衍射仪
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日本理学X射线衍射仪 TFXRD-300/200, 适用于Near-Fab Application的无损方式XRD·Mapping Tool有多种光学元件可选的高精度测角仪,用于氮化镓(GaN)质量管理,可对应大规格晶圆的X射线衍射分析(XRD)系统

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日本理学X射线衍射仪 TFXRD-300/200

 

 适用于Near-Fab Application的无损方式XRD·Mapping Tool有多种光学元件可选的高精度测角仪,用于氮化镓(GaN)质量管理,可对应大规格晶圆的X射线衍射分析(XRD)系统

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