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尼康主要的光刻机型号及其关键参数
尼康(Nikon)是光刻机领域的重要厂商之一,尤其在DUV(深紫外)光刻机市场中占据重要地位。以下是尼康主要的光刻机型号及其关键参数,涵盖i-line、KrF和ArF等技术节点,以及与EUV(极紫外)相关的信息。
适用于成熟制程(如IC、MEMS、功率器件等):
NSR-SF150
分辨率:≥0.35 μm
套刻精度:≤10 nm
产能:≥200 wph(300mm晶圆)
应用:半导体封装、LED制造等。
NSR-2205iL1
分辨率:0.4 μm
曝光场尺寸:22×22 mm
适用晶圆:200mm/300mm
适用于中端制程(如180nm~65nm节点):
NSR-S620D
分辨率:≤0.13 μm(通过分辨率增强技术)
套刻精度:≤5 nm
产能:≥180 wph(300mm晶圆)
特点:支持双工件台(Dual Stage)技术。
NSR-S305F
分辨率:0.11 μm
套刻精度:≤7 nm
适用晶圆:200mm
适用于先进制程(65nm~7nm,配合多重曝光):
NSR-S631E
分辨率:≤65 nm(单次曝光)
套刻精度:≤3 nm
产能:≥150 wph
应用:CMOS、存储器等。
NSR-S635E
分辨率:≤38 nm(单次曝光)
套刻精度:≤2.5 nm
产能:≥140 wph
特点:支持液浸技术(NA≥1.30),用于7nm/10nm节点(需多重曝光)。
NSR- S636E(最新型号)
分辨率:≤32 nm(单次曝光)
NA值:1.35
套刻精度:≤2 nm
产能:≥160 wph
尼康曾研发EUV技术,但当前市场由ASML主导。尼康的EUV光刻机未大规模商用,仅限实验用途:
NSR-EUVL(原型机)
波长:13.5 nm
分辨率:≤16 nm
光源功率:低(与ASML差距较大)
现状:已暂停开发,转向High-NA EUV预研。
NSR-EB1
分辨率:≤10 nm(直接写入)
应用:掩模版制作、纳米器件研发。
型号 |
技术节点 |
波长 |
分辨率(单次曝光) |
NA值 |
套刻精度 |
产能(wph) |
NSR-SF150 |
i-line |
365nm |
≥0.35 μm |
0.45 |
≤10 nm |
≥200 |
NSR-S620D |
KrF |
248nm |
≤0.13 μm |
0.68 |
≤5 nm |
≥180 |
NSR-S635E |
ArF Imm. |
193nm |
≤38 nm |
1.30 |
≤2.5 nm |
≥140 |
NSR-S636E |
ArF Imm. |
193nm |
≤32 nm |
1.35 |
≤2 nm |
≥160 |
优势:尼康在成熟制程(i-line/KrF)中性价比高,维护成本低。
劣势:在EUV和High-NA领域落后于ASML,ArF浸没式机型市场份额较小。
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