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尼康主要的光刻机型号及其关键参数
2025-06-29 13:41:24

尼康主要的光刻机型号及其关键参数

尼康(Nikon)是光刻机领域的重要厂商之一,尤其在DUV(深紫外)光刻机市场中占据重要地位。以下是尼康主要的光刻机型号及其关键参数,涵盖i-lineKrFArF等技术节点,以及与EUV(极紫外)相关的信息。

1. i-line 光刻机(365nm)

适用于成熟制程(如IC、MEMS、功率器件等):

NSR-SF150

分辨率:≥0.35 μm

套刻精度:≤10 nm

产能:≥200 wph(300mm晶圆)

应用:半导体封装、LED制造等。

 

NSR-2205iL1

分辨率:0.4 μm

曝光场尺寸:22×22 mm

适用晶圆:200mm/300mm

2. KrF 光刻机(248nm)

适用于中端制程(如180nm~65nm节点):

NSR-S620D

分辨率:≤0.13 μm(通过分辨率增强技术)

套刻精度:≤5 nm

产能:≥180 wph(300mm晶圆)

特点:支持双工件台(Dual Stage)技术。

 

NSR-S305F

分辨率:0.11 μm

套刻精度:≤7 nm

适用晶圆:200mm

3. ArF 光刻机(193nm Dry/Wet)

适用于先进制程(65nm~7nm,配合多重曝光):

干式 ArF(Dry)

NSR-S631E

分辨率:≤65 nm(单次曝光)

套刻精度:≤3 nm

产能:≥150 wph

应用:CMOS、存储器等。

浸没式 ArF(Immersion)

NSR-S635E

分辨率:≤38 nm(单次曝光)

套刻精度:≤2.5 nm

产能:≥140 wph

特点:支持液浸技术(NA≥1.30),用于7nm/10nm节点(需多重曝光)。

 

NSR- S636E(最新型号)

分辨率:≤32 nm(单次曝光)

NA值:1.35

套刻精度:≤2 nm

产能:≥160 wph

4. EUV 光刻机(极紫外,13.5nm)

尼康曾研发EUV技术,但当前市场由ASML主导。尼康的EUV光刻机未大规模商用,仅限实验用途:

NSR-EUVL(原型机)

波长:13.5 nm

分辨率:≤16 nm

光源功率:低(与ASML差距较大)

现状:已暂停开发,转向High-NA EUV预研。

5. 电子束光刻(EBL)

NSR-EB1

分辨率:≤10 nm(直接写入)

应用:掩模版制作、纳米器件研发。

关键参数对比表

型号

技术节点

波长

分辨率(单次曝光)

NA值

套刻精度

产能(wph)

NSR-SF150

i-line

365nm

≥0.35 μm

0.45

≤10 nm

≥200

NSR-S620D

KrF

248nm

≤0.13 μm

0.68

≤5 nm

≥180

NSR-S635E

ArF Imm.

193nm

≤38 nm

1.30

≤2.5 nm

≥140

NSR-S636E

ArF Imm.

193nm

≤32 nm

1.35

≤2 nm

≥160

 


 

尼康 vs. ASML

优势:尼康在成熟制程(i-line/KrF)中性价比高,维护成本低。

劣势:在EUVHigh-NA领域落后于ASML,ArF浸没式机型市场份额较小。

 

 

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