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FR-ES 膜厚测量仪
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FR-ES ：用于薄膜表征的紧凑型入门级系统，是一款结构紧凑、重量轻的薄膜测绘系统。使用 FR-ES，用户可以在 370-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量。
有三种配置可供选择：VIS/NIR（370-1020nm），NIR-N1（850-1050nm），NIR（900-1700nm）。还有各种各样的配件，例如
。 滤光片：在某些光谱区域阻挡光线
。FR-Mic：用于非常小的区域进行测量
。 手动平台 ：100 x 100mm 或 200 x 200mm
。 薄膜/杯架 ：适用于吸收率/透射率和化学浓度测量
。 积分球：用于漫反射和全反
通过不同模块的组合，最终设置可满足用户的任何需求
应用
o 大学 & 研究实验室
o 半导体
o 聚合物 & 光刻胶
表征
o 化学测量
o 电介质表征
o 生物医学
o 硬涂层，阳极氧化，
金属件表面处理
o 光学镀膜
o 非金属薄膜
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