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半导体微纳检测仪器
 
Royce 650,620,610 万用推拉力性能测试仪
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Royce 650,620,610 万用推拉力性能测试仪,主要用于测试半导体器件和PCB板上元器件各种机械性能测试。

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Royce 650万用推拉力性能测试仪

Royce 650万用机械性能测试仪主要用于测试半导体器件和PCB板上元器件各种机械性能测试。 如引线拉力测试(Wire Bond Pull Testing),引线键合球推力测试(Wire Bond Ball Shear Testing),BGA焊球推力测试(BGA Ball Shear Testing),芯片焊接牢固度测试(Die Shear Testing)和高速焊球推力测试(High Speed Ball Shear Testing)等。

 

  

 

内部计算机:集成高性能的工业计算机,具备DVD-CD RW刻录光驱、USB接口、网口。

伺服马达驱动的样品平台:移动范围305mm x 155mm,

X,Y轴的分辨率:1微米

Z轴分辨率:0.1微米

系统精度:+/- 0.1%

测试线弧高度:具备

测试力曲线图:具备

国际标准:符合美军标883,美军标750,ASTM F1269,JESD22-B117, JESD22- B116和CE认证。具备ROHS无铅认证。


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