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EM-09100IS 离子切片仪
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日本电子JEOL 离子切片仪 EM-09100IS
用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
· 产品规格
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EM-09100IS |
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离子加速电压 |
1 ～ 8kV |
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倾斜角 |
Up to 6°(0.1°/步) |
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离子束直径 |
500μm(FWHM) |
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Milling rate |
5m/min (加速电压:8 kV, Si换算) |
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使用气体 |
氩气 |
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最大样品尺寸 |
2.8mm(长度)×0.5 mm(宽度)×0.1mm(厚度) |
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压力测试 |
潘宁规 |
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主抽真空系统 |
涡轮分子泵 |
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CCD相机 |
内置 |
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尺寸 重量 |
主机 |
500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、63kg |
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机械泵 |
150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg |
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液晶显示器 |
326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg |
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· 安装条件
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EM-09100IS |
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电源 |
单相, AC100 ～ 120V, 50/60Hz, 500 ～ 600VA |
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接地线 |
独立地线(100Ω以下) |
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氩气 |
使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ～ 2.0kg/cm2) |
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室温 |
20 ～ 25℃(fluctuation: 1°C/hor less变动少于1°C/h) |
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湿度 |
60% 以下 |
· *请提供安放设备的桌子。
· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
产品特点：
· 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法
· 离子切片仪制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外，不需要溶剂或化学试剂及前处理（打磨或凹坑研磨），比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
· 主要特点:
· 高质量的透射电镜样品的前处理
· 快速制备
· 无需复杂的前处理
· 最小限度的表面损伤
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