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IB-09060CIS 低温冷冻离子切片仪
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IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪
易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤。
· 产品规格
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IB-09060CIS |
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离子加速电压 |
1 ~ 8kV |
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倾斜角 |
最大±6º(0.1º/步) |
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离子束直径 |
500μm(FWHM) |
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研磨速率 |
5μm/min(加速电压:8kV、Si换算) |
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使用气体 |
氩气 |
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最大样品尺寸 |
2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度) |
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样品冷却 |
样品架冷却温度 |
-120℃ |
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冷却到达时间 |
1小时 |
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冷却保持时间 |
8小时 |
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样品取出时间 |
30分钟 |
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压力测试 |
潘宁规 |
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主抽真空系统 |
涡轮分子泵 |
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CCD相机 |
内置 |
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尺寸 重量 |
主机 |
500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg |
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机械泵 |
150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg |
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液晶显示器 |
326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg |
· 安装条件
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IB-09060CIS |
电源 |
单相100 ~ 120V±10%、50/60Hz、0.5 ~ 0.6kVA |
接地线 |
独立地线(100Ω以下) |
氩气 |
使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ~ 2.0kg/cm²) |
室温 |
20 ~ 25℃ |
湿度 |
60% 以下 |
· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
产品特点:
· 带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
· ①通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
· ②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
· ③冷却保持时间长,大大减少了热损伤。
· ④在装有液氮的情况下,也可以交换样品。
· *最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
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